品質サポート
Quality Support

長年にわたって自動車用電子部品の品質保証に携わり、ゼロ・ディフェクトの実現を推進。そのキャリアとノウハウをもとに、検査、スクリーニングから初期不具合解析、故障解析・原因解析、さらに各種デバイスへのデータ書き込み、レーザーによるマーキング、スティック、トレイ品からのテーピングなどの製品サポートを行っています。
現在は、選別検査や機能検査の多品種への対応、品質向上を推進。今後、一次解析業務、解析選別代行、製造組立など、当社ならではの付加価値創造をめざした取り組みを実践していきます。

事業内容

[ VA センター ]
TEL:042-846-0088
FAX:042-846-0099

[機能]
・メモリーのデータ書込み
・テーピング梱包作業
・外観/機能選別検査
・不具合解析
[ TAQS センター ]
TEL:056-696-4433
FAX:056-697-3467

[機能]
・不具合解析
・信頼性評価
・外観/機能選別検査
・テーピング梱包作業

VAセンター品質サポート業務

[ 外観目視検査業務 ]・・・顧客の仕様に合致した商品の選別及び不具合品の排除

裸眼・拡大鏡・顕微鏡による外観選別検査

  • 顕微鏡を使用した外観検査
  • 自動外観検査装置

X線検査装置による非破壊検査

[ 機能検査業務 ]・・・顧客の仕様に合致した特性品の選別及び機能不具合品の排除

  • HDD不良解析
  • 通信モジュール検査
  • 液晶パネル点灯検査

[ 解析業務 ]

  • ・システム商品、ユニット製品の1次不良解析/修理業務 (各サプライヤー代行業務)
  • ・LED(光学デバイス)製品の1次不良解析業務 (各サプライヤー代行業務)
  • 液晶点灯検査
  • X線検査装置
    島津製作所製 SMX-160GT X線透視装置

[ 部品・機器のリバースエンジニアリング ]

  • ・PCB基板のリバースエンジニアリングによる登載部品調査及びベンチマーク

TAQSセンター品質サポート業務

[ 選別・検査/スクリーニング/補完作業・テーピング作業・他 ]

外観選別,X-ray選別,電気特性選別(テスターなど)
検査後のテーピング/梱包まで対応可能

[ 品質評価・耐環境評価・寿命試験 ]

JEDEC/JEITA/AECなど各種規格の品質・信頼性評価 環境・寿命試験に対応可能。 他、ESD,ラッチアップなどのノイズ耐性評価の対応可能。

[ 不具合解析・初期不良解析/故障解析・原因解析 ]

半導体の不具合初期解析(非破壊解析)、デキャップ・薄膜除去等の故障解析、プロービング・オバーク等の故障・原因解析

主な特徴

  • 製造現場が抱える課題を解決するサービスを提供します。
  • より質の高い解析・品質サポート、製品サポートを行うために、当社独自の施設を設置しています。その一つであるVAセンターではフラッシュメモリー、マイコン、EEPROMなど各種デバイスへのデータ書き込み、外観検査、スクリーニングを実施。また、もう一つのTAQSセンターでは選別・検査、耐環境評価・寿命試験、不具合解析・初期不良解析などを行っています。