良品解析サービス | ネクスティ エレクトロニクスの品質・解析サポート　

良品解析とは、製品の品質を評価・分析するプロセスを指します。
一般的に、製品の信頼性、特に経年劣化の経過を評価するには、 加速試験という信頼性試験方法が用いられます。
加速試験は短期間で寿命予測や劣化具合を確認するのに有効な手立てではありますが、試験時間が500～3000時間、長ければ4000～5000時間かかるケースもあり、多くの部品・機種を多岐にわたり、評価したい場合に工数や試験槽が足りなくなるという事が考えられます。
そのような時、さらに短期間で信頼性を評価しようとするのが良品解析です。

良品解析では、現状では良品（製品の電気的特性が機能している状態）であっても、『故障につながる素因をもつ製品は、経年劣化を経て、いずれ故障が顕在化する』と考え、物理解析により未然に故障の素因を洗い出し、信頼性を評価する事を基本的な考え方としています。
良品の製品を評価することで使用リスクを把握でき、リスクの高い製品は使用しない等の対策や品質向上につなげることができます。

具体的には、下記のようなケースにご活用頂けます。

• 従来部品から新規部品へ切り替えの際、参考とする為の基礎データが欲しい
• 製品を分解し、内部の構造を知りたい
• 過去にトラブルのあった部品の対策済品がきちんと対策されているか確認したい

ネクスティエレクトロニクスは、多くのティア1のお客さまから良品解析のご利用やリピート依頼をいただいており、豊富な実績があります。 信頼性加速試験装置を社内で保有し、試験実施をできるため、加速試験後の良品解析にも対応可能です。
一度のご依頼で多品種の調査サンプルを加速試験と良品解析にかけたい場合、調査サンプルをまとめて加速試験槽に入れることで、よりリーズナブルな費用でご利用いただけます（ただし、調査サンプルの加速試験の温湿度条件が同じ場合に限ります）。
加速試験や良品解析にかけるリソースが不足しているなど、デバイスの良品解析についてお困りのことがあれば、ぜひネクスティ エレクトロニクスにおまかせください。

良品解析 調査項目

ネクスティ エレクトロニクスでは、故障の素因となりうる事柄を、外観から内部構造まで幅広く調査します。

下表は、基本的なICの良品解析メニューです。
メニュー内の不要な項目、追加したい項目（FIBによるチップの積層構造観察、メカニカル開封によるダイパッド観察等）のご要望がございましたら、ぜひご相談ください。フレキシブルに対応します。
その他、ディスクリート部品（抵抗、コンデンサ、コイル、ダイオード、トランジスタ、MOS等）にも対応可能です。